已知整个高粱籽粒的结构特征会影响最终使用质量，但对该结构的传统评估是二维的(即，籽粒的横截面)。目前的技术为考虑谷物的三维结构特征提供了可能性。X射线计算机断层成像(CT)提供了这样一种机会，可以从谷粒颖果中无损地提取定量数据，然后这些数据可以与最终使用质量相关。


从籽粒高粱颖果的CT扫描中提取出表型测量值。胚体积、胚乳硬度、胚乳质地、胚乳体积、果皮体积和籽粒体积的表型变异较大。CT得出的估计值与地面实况测量有很强的相关性，从而能够识别出具有优越结构特征的基因型。

19个基因型的高粱籽粒结构CT估计值中与因子相关的百分比方差。复制指的是独立的CT扫描，而行和列指的是CT机内的空间位置

本文提出了一种表型流水线，用于量化籽粒高粱颖果的三维结构特征，从而提高了以前难以测量的性状的处理效率。将这一工作流程调整到其他小种子作物上是可能的，这为科学家以非破坏性的方式研究谷物提供了新的独特机会，最终将导致最终使用质量的提高。

来源：Plant Methods.Application of X-ray computed tomography to analyze the structure of sorghum grain.Daniel Crozier, Oscar Riera-Lizarazu & William L. Rooney
https://plantmethods.biomedcentral.com/articles/10.1186/s13007-022-00837-7